ミリメートル範囲の量子特性分布評価：高純度ダイヤモンドに向けた新たな評価手法

Abstract

筆者らは、高い信号雑音比で、またミリメートル以上の測定範囲で量子特性評価を可能にする新たな顕微鏡システム「柱状励起蛍光顕微鏡（CEFM）」を開発した。本評価手法は、高感度量子センサー実現に向けた材料開発を強力に推進し、将来的には、本評価技術が新たな量子デバイスの創製や量子計測技術の発展に大きく貢献すると期待される。