基于双折射偏振走离效应的单光子整体性检验实验方案
Jingyuan Guo
Abstract
光子的不可分割性是量子光学的核心基本假设之一。传统验证实验多采用空间分束器构型,通过测量两路单光子探测器的符合计数率证明单个光子无法同时出现在两条空间路径中。本文提出一种基于双折射晶体偏振走离效应的新型检验方案:利用厚双折射晶体使单光子的两个正交偏振分量在时间域上完全分离,再通过偏振分束器将二者导向不同的探测通道。实验采用 "逐次记录 — 累积曝光" 两步对照法,逐次记录每个光子事件对应的屏响应,再与多光子累积结果进行对比。与传统空间分束实验不同,本方案中两个分量先后到达、均可被独立操作,不存在 "未知路径" 的模糊性,可更直接地检验单光子的整体性与偏振分量的物理实在性。