High-Fidelity Electron Spin Gates for Scaling Diamond Quantum Registers
Timo Joas, Florian Ferlemann, Roberto Sailer, Philipp J. Vetter, J. Zhang, R. S. Said, Tokuyuki Teraji, S. Onoda, Tommaso Calarco, G. Genov, Matthias M. Müller, Fedor Jelezko
Abstract
ダイヤモンドは量子情報処理のための有望なプラットフォームで、高度にコヒーレントな量子ビットを持つことができ、大規模な量子レジスターの構築を可能にします。そのためには、窒素空孔(NV)の電子スピン間でのコヒーレントな相互作用が必要で、スケーラブルなエンタングルメントを可能にします。これまで、双極子結合されたNVスピンペア間のエンタングルメントが示されていましたが、忠実度が限られており、エラーの原因は特定されていませんでした。本研究では、ダイヤモンド中のNV電子スピン間でロバストな2量子ビットゲートを設計・実装し、ゲート性能に影響を与える複数のエラー源を定量化しました。実験的に、環境条件下で96.0 ± 2.5%の記録的なゲート忠実度を証明しました。支配的なエラーの特定により、エラー修正しきい値を超えるNV-NVゲートへの道を開きます。