光谱学与光谱分析
Pr^3+:Y2SiO5中的反斯托克斯荧光谱及其对基态Stark分裂能级的确定
张衍亮, S Rộng, 李玉琼, 丁良恩, 王祖赓
Abstract
掺杂在晶体Y2SiO5 (YSO)中的Pr3+, 运用脉冲激光激发3H4→1D2跃迁,粒子通过非辐射能量转移从能级 1D2转移到能级 3P0, 测得了对应于 3P0→3H4跃迁的反斯托克斯荧光光谱, 由此可确定 3H4的Stark分裂能级以及 3P0能级的能量高度. 与运用激光激发 3H4→1D2跃迁, 通过观察 1D2→3H4斯托克斯荧光光谱确定3H4的Stark分裂能级方法相比, 该过程避免了不同晶点位置中(Crystallographic site)Pr3+的 1D2能级间的能量转移影响, 从而具有较高的确定性. 同时, 我们观察了反斯托克斯荧光的时间特性.