Впервые представлено решение задачи определения многомерной статистики фотонов по измерению статистики электронов, порождаемых при детектировании излучения. Подробно изложен двумерный случай. Метод основан на применении характеристической функции, который позволил получить связь двумерной функции распределения фотонов с двумерной функцией рапределения фотоотсчетов. Область применения полученных результатов малофотонные и неклассические световые поля.