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Journal of Optoelectronics·laser

掺Cr^4+饱和吸收体吸收截面和基态恢复时间的测量

张行愚, 赵圣之

Published Jan 1, 1998• 0 citations
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Abstract

本文给出一种测量掺Cr^4+饱和吸收体基态和激光发态吸收截面的方法,并用之测量国产Cr^4+:YAG的两个吸收截面分别为4.3×10^-18cm^2和8.2×10^19cm^2;同时给出一种用泵浦探测法测量可饱和吸收体μs量级基态恢复时间的方法,并用之测得国产Cr^4+:YAG的基态恢复时间为3.2μs。

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