30aCC-5 偏光の連続測定による複素結合確率分布の再構築(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-4 光渦ビームを用いた弱測定による偏光混合状態の直接測定(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-2 位相緩和過程における弱値の動的な性質(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-8 光子量子ビットの適応的量子状態推定(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-6 事後選択の技術の有用性に関する推定論的考察(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-9 限定アクセス下での全系の識別限界から導入される同値類とその性質(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-11 環境系の同定プロトコルに関する数値シミュレーション(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))