19aAK-11 量子系の純粋度の最小構成測定方法と量子系の次元(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-2 量子過程における物理量としての弱値の不定性について(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-4 階段ポテンシャルによる対生成と特異な弱値(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-10 同種粒子性を利用する量子計測と識別不可能性(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-7 3状態系における幾何学的位相の測定(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-8 もつれ合い顕微鏡の実現 : 標準量子限界を超える位相測定感度の応用(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

19aAK-6 混合状態を用いた偏光回転の弱測定(19aAK 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))