30aCC-6 事後選択の技術の有用性に関する推定論的考察(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-12 環境と弱く相互作用するマクロ量子系におけるポインター状態の安定化(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-2 位相緩和過程における弱値の動的な性質(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-9 限定アクセス下での全系の識別限界から導入される同値類とその性質(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-5 偏光の連続測定による複素結合確率分布の再構築(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-11 環境系の同定プロトコルに関する数値シミュレーション(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

30aCC-7 量子メトロロジィにおける信頼水準(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))