日本物理学会講演概要集9pAD-5 III-V族半導体量子ドットにおけるフォトンエコーの減衰形状の励起強度依存性(9pAD 微粒子・ナノ結晶・非線形光学,領域5(光物性))康義 三森, 悠毅 佐藤, 健太 朝倉, 英男 小坂, 圭一 枝松, 浩一 赤羽, 直克 山本Published Aug 22, 2014• 0 citationsOpenAlex