Journal of Korean institute of intelligent systems
이진 병합에 의한 양자암호 취약성
임광철, 최진석
Abstract
본 논문에서는 양자암호 시스템의 설계과정에서 필연적으로 사용되는 의사난수들의 비트열들이 다수개 존재하는 현상과 이를 상호 공개된 채널에서 부분정보를 공유해야 하는 상황은 비트열들의 쌍을 노출 시킨다. 본고에서는 이러한 의사난수열의 기본 테스트 과정과 이를 벗어나는 이진 병합 비트열의 난수성에 대하여 살펴 본다.